Kính hiến vi điện tử quét phát xạ trường – ZEISS GeminiSEM
Là kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường, hệ thống vật kính của Gemini kết hợp từ trường tĩnh điện và từ trường để tối đa hóa hiệu suất quang học trong khi giảm ảnh hưởng của từ trường đến mẫu xuống mức tối thiểu. Điều này cho phép chụp ảnh có độ chính xác cao hơn, ngay cả trên các mẫu khó như vật liệu từ tính. Đầu dò Inlens phát hiện tín hiệu hiệu quả bằng cách phát hiện song song các electron thứ cấp (SE) và các electron tán xạ ngược (BSE). Các đầu dò Inlens được bố trí trên trục quang, giúp giảm yêu cầu sắp xếp lại và do đó giảm thiểu thời gian đưa ra hình ảnh.
Description
ZEISS GeminiSEM Family – Kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường đáp ứng nhu cầu cao nhất về hình ảnh
– Hệ thống vật kính của Gemini kết hợp từ trường tĩnh điện và từ trường để tối đa hóa hiệu suất quang học trong khi giảm ảnh hưởng của từ trường đến mẫu xuống mức tối thiểu. Điều này cho phép chụp ảnh có độ chính xác cao hơn, ngay cả trên các mẫu khó như vật liệu từ tính. Đầu dò Inlens phát hiện tín hiệu hiệu quả bằng cách phát hiện song song các electron thứ cấp (SE) và các electron tán xạ ngược (BSE). Các đầu dò Inlens được bố trí trên trục quang, giúp giảm yêu cầu sắp xếp lại và do đó giảm thiểu thời gian đưa ra hình ảnh.
– Công nghệ tăng cường chùm tia Gemini đảm bảo kích thước đầu dò nhỏ và thu nhận được mức tín hiệu cao trên tỷ lệ nhiễu, ngay cả với điện áp gia tốc rất thấp.
| GeminiSEM 500 | GeminiSEM 450 | GeminiSEM 300 | |
| Dải điện áp | 0,02 – 30 kV | ||
| Cường độ dòng | 3 pA – 20 nA | 3 pA – 40 nA | 3 pA – 20 nA |
| Độ phóng đại | 50 – 2.000.000 | 12 – 2.000.000 | 12 – 2.000.000 |
| Độ phân giải số | Lên đến 32k × 24k pixels | ||
| Độ phân giải | 0.4 nm @ 30 kV (STEM) | 0.6 nm @ 30 kV (STEM) | 0.6 nm @ 30 kV (STEM) |
| 0.5 nm@ 15 kV | 0.7 nm @ 15 kV | 0.7 nm @ 15 kV | |
| 0.9 nm @ 1 kV | 1.1 nm @ 1 kV / 500 V | 1.2 nm @ 1 kV | |
| 0.8 nm @ 1 kV TD | 1.0 nm @ 1 kV / 500 V TD | 1.1 nm @ 1kV TD | |
| 1.0 nm @ 500 V | 1.5 nm @ 200 V | ||
Reviews
There are no reviews yet.